基于聚类分析的晶片图示例

在该示例中，您有晶片的次品数据。X 模具和 Y 模具列给出模具的位置，次品数则给出每个位置的次品数。因为模具次品通常按一定模式发生，您可以使用聚类分析将晶片划分到可能具有同类次品模式的组。完成后，您要将每个聚类的次品模式可视化。

1.	选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Wafer Stacked.jmp。

2.	运行“次品数”的空间聚类脚本。

3.	点击“层次聚类”红色小三角菜单并选择保存聚类。

构造七个聚类。将聚类编号保存到 Wafer Stacked.jmp 数据表中名为聚类的列中。

4.	返回到 Wafer Stacked.jmp。

5.	选择图形 > 图形生成器。

6.	选择 X 模具并将它拖至 X 区域。

7.	选择 Y 模具并将它拖至 Y 区域。

8.	取消选择“平滑线”元素并点击“点图”元素。

9.	选择聚类并将它拖至重叠区域。

10.	选择次品数并将它拖至颜色区域。

11.

按次品数均值为热图着色。

12.	右击图例中的颜色条，然后选择梯度。

13.	为“尺度类型”选择对数。

该尺度对于次品数的对数是线性的。因为次品数的分布偏斜很大，使用“对数”尺度可突出显示变异模式，但是无法轻松比较原始尺度的量值。

14.

点击确定。

15.