检查失败原因

该示例使用 Failure3.jmp 样本数据表，其中包含在集成电路制作过程中失败的常见原因。检查失败原因和发生时间。

1.	选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Quality Control/Failure3.jmp。

2.	选择图形 > 矩形树图。

3.	选择数量并点击大小。

4.	选择失败和清洗并点击类别。

5.	选择清洗并点击颜色。

点击确定。

从失败模式中可看到：

•	污染是最主要的失败原因。

•	污染更常见于电路清洗前而非清洗后。