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目标图
目标图为每个变量在 x 轴上显示规格标准化均值偏移，在 y 轴上显示规格标准化标准差。该图可用于快速提供关于变量是否符合规格限的汇总视图。将光标置于每个点上方可查看变量名。目标图红色小三角菜单包含以下命令：
着色 CPK 水平
显示或隐藏 CPK 水平着色。
目标图标签
显示或隐藏点上的标签。
缺陷率等高线
显示或隐藏表示指定缺陷率的等高线。
目标图显示在从“目标图”红色小三角菜单中选择着色 CPK 水平后，Semiconductor Capability.jmp 样本数据表的整个数据集的目标图。
目标图
对于包含下规格限、目标和上规格限的每一列，这些量定义如下：
规格标准化均值偏移 = (均值(列[i]) - 目标) / (上规格限[i] - 下规格限[i])
规格标准化标准差 = 标准差(列[i])/ (上规格限[i] - 下规格限[i])
默认情况下，CPK 滑块和数字编辑框设置为 CPK = 1。这近似不合格率为 0.0027（若呈中心化分布）。红色目标线表示编辑框中的 CPK。要更改 CPK 值，请移动滑块或在编辑框中输入数字。图上各点表示列而不是行。
着色区域说明如下，其中使用 C 来表示 CPK 编辑框中的值：
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红色区域中的点：CPK < C。
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黄色区域中的点：C < CPK < 2C。
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绿色区域中的点：2C < CPK。
JMP 优先绘制 PPK 而不是 CPK。若启用该首选项，滑块的标签会显示 PPK。您可以通过文件 > 首选项 > 平台 > 能力更改该首选项。