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双侧 CUSUM 图
若 CUSUM 图为双侧，为第 t 个子组标绘的累积和 St 如下所示：
St = St - 1 +zt
t = 1, 2,..., n。此处的 S0=0，项 zt 计算如下：
其中，Xt 是第 t 个子组的平均值，nt 是第 t 个子组的样本大小。若子组样本由单个测量值 xt 构成，项 zt 简化为以下计算：
zt = (xt – μ0)/σ
第一个方程可重写为以下形式：
其中，序列 St 对距离目标均值 μ0 的子组平均值标准差进行累积。
在许多应用中，子组样本大小 ni 为常数 (ni = n)，St 的方程可简化如下：
在某些应用中，最好按如下方式计算 St：
该式按照与数据相同的单位来调整尺度。在这种情况下，过程将 V 形模板参数 h 和 k 的尺度分别重新调整为 和 。某些作者用符号 F 代替 k'，用 H 代替 h'。
若过程处于受控状态且均值 μ 达到目标 μ0 或接近该目标，则采用随机漫步模型。因此，点可能离开零，但是不会呈现大的趋势，因为距离 μ0 的正偏移量和负偏移量趋近于彼此抵消。若 μ 具有正向偏移量，则点呈现向上趋势；若 μ 具有负向偏移量，则点呈现向下趋势。