本例使用 Failures.jmp 样本数据表,其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因,以及两个过程中出现每种类型缺陷的次数。为该示例指定的常数样本大小为 1000。
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点击确定。
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