Datenanalysesoftware für die Halbleiterindustrie

Wie JMP^® die Halbleiterindustrie fördert

JMP-Software befähigt einige der weltweit größten und innovativsten Hersteller von Halbleitern dazu, ihre Entwicklungszyklen zu beschleunigen, und zwar vorhersagbarer und kostengünstiger – und das, ohne eine einzige Zeile Code schreiben zu müssen.

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100% der 10 größten Halbleiterunternehmen der Welt nutzen JMP

Für Integration und Produktmanagement

Schnell potenzielle Verbesserungen der Ergiebigkeit bei neuen und vorhandenen Produkten identifizieren.
Die Verschwendung und den Ausgleich von Abweichungen dank datengetriebener Untersuchungen anhand von Ursachenanalysen verringern.
Einfach interaktive Wafer Maps erstellen.
Durch effiziente Split-Pläne schnell alle erforderlichen Informationen erhalten, um Kundenanforderungen zu erfüllen.
Auf effiziente Weise weit gefasste Datensammlungen zu umsetzbaren Einblicken formen.
Entscheidungsträgern und Kunden überzeugende Dateneinblicke bieten.

Für Prozess- und Anlagentechnik

Neue Prozesstools schneller und mit weniger Fehlern qualifizieren und in der Produktion umsetzen.
Versuche planen, um robuste neue Konzepte zu entwickeln und vorhandene Konzepte anzupassen.
Die Geschwindigkeit und Qualität von Analysen durch die Automatisierung routinemäßiger Aufgaben steigern.
Einfach interaktive Wafer Maps erstellen.
Abweichungen oder Fehler schnell erkennen und beheben.
Prozesse effektiv überwachen, um gleichbleibende Qualität zu gewährleisten.

Für Zuverlässigkeit

Schnell Testpläne erstellen und die erforderlichen Stichprobengrößen definieren.
Fehlerraten akkurat simulieren und vorhersagen.
Entscheidungsträgern Ergebnisse auf interaktive Weise präsentieren.
Modelle für die Dauer bis zum Ausfall erstellen, die von verschiedenen Faktoren abhängig sind, etwa dem Prozess, der Spannung, der Temperatur und der Frequenz.

Für Ergiebigkeit und Qualität

Schnell Berichte und Visualisierungen entwickeln, um Probleme besser identifizieren zu können, bevor sie zu Abweichungen führen.
Schnell effiziente Datenerfassungspläne entwickeln, um Untersuchungen zu unterstützen.
Untersuchungen zu Ursachenanalysen mithilfe von maschinellem Lernen und KI-Modellen effizienter durchführen.
Einfach interaktive Wafer Maps erstellen.
Verschiedene Datensätze aus einer Vielzahl von Quellen effizient verwalten und manipulieren.

260 %iger

Anstieg der Zufriedenheit am Arbeitsplatz unter Ingenieuren

Vishay

„Dem Unternehmen durchgehend einen Mehrwert bieten – genau das schafft JMP^®.“

Seagate

83 %ige

Verbesserung des Prozessfähigkeitsindex

Polar Semiconductor

Erfahrungsberichte von Kunden im Halbleiterbereich anzeigen

JMP-Funktionen für die Halbleiterindustrie

Versuchsplanung (DOE – Design of Experiments)

Erstellen Sie benutzerdefinierte Experimentreihen, um ein Maximum an Informationen aus jedem Wafer zu erhalten.

Datenvisualisierung

JMP verbindet dynamische Grafiken mit leistungsstarken Statistiken, um Erkenntnisse interaktiv vorstellen zu können. Werten Sie Ihre Daten aus, ohne den Analysefluss zu verlassen oder bei neu auftauchenden Fragen Befehle erneut ausführen zu müssen.

Definitives Screening-Design

Optimieren Sie Ihre Prozesse schneller, indem Sie aus jeder Experimentenreihe mehr Informationen herausholen, als jemals zuvor.

Qualität und Prozessfähigkeitsanalyse

Machen Sie sich die Prozess-Screening-Plattform in JMP zunutze – unser Qualitäts-Dashboard –, um schnell zu bestimmen, welche Variablen Sie im Auge behalten müssen, und um Ereignisse außerhalb der Grenzen zu identifizieren, bevor sie zu Abweichungen führen.

Data Mining

Nutzen Sie maschinelles Lernen, KI und klassische Datengewinnungstechniken, um verborgene Einblicke zu erhalten und schnell potenzielle Ursachen hinter Problemen zu identifizieren.