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Grundlegender Inhalt
Eintauchen in beschleunigte Lebensdauertests für Produktzuverlässigkeit
29. November | 10:00 CETBeschleunigte Lebensdauertests (ALT) sind für die Bewertung der Produktzuverlässigkeit von Teilen erforderlich, die über lange Zeiträume hinweg gut funktionieren müssen. Aufgrund der niedrigen Ausfallraten unter Einsatzbedingungen müssen Teile bei hohen Belastungen getestet werden, damit Ausfälle in einer angemessenen Zeitspanne auftreten. Zu den Geräten, die solche Zuverlässigkeitsanalysen erfordern, gehören medizinische Geräte, Halbleiterschaltungen, Luftfahrtgeräte und mehr. Erfahren Sie, wie Sie beschleunigte Testdaten analysieren können, um die Lebensdauer unter Einsatzbedingungen sowohl für Einzel- und Mehrfachtests mit konstanter Belastung als auch für Tests mit ansteigender Belastung vorherzusagen. Untersuchen Sie einen sicheren Betriebsbereich mithilfe von Konturdiagrammen. Sehen Sie sich eine 30-minütige Demo an, gefolgt von einer 15- bis 30-minütigen Diskussion und einer Frage-Antwort-Runde.
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Grundlegender Inhalt
Erstellen von Dashboards zum Abrufen und Weitergeben von aktualisierten Analysen
13. Dezember | 10:00 CETErfahren Sie, wie Sie ganz einfach und ohne Skript ein einzelnes, präsentationsbereites Dashboard erstellen, um regelmäßig Berichte zu erstellen und zu präsentieren. Erfahren Sie, wie Sie das Dashboard erstellen, indem Sie Fenster kombinieren oder mit einer Vorlage beginnen, auf Berichtskomponenten klicken, Berichte aggregieren und Diagramme und Bilder einfügen. Erfahren Sie, wie Sie das Dashboard speichern und teilen, damit Sie und andere die Berichte ausführen sowie mit ihnen interagieren und sie analysieren können. Sehen Sie sich eine 30-minütige Demo an und bleiben Sie anschließend dabei, wenn Sie an der 15–30-minütigen Diskussion und der Frage-Antwort-Runde teilnehmen möchten.
Voraussetzungen, um optimal von Mastering JMP zu profitieren:
