Maîtrise statistique des procédés

  • IR
  • X-barre R
  • X-barre S
  • P
  • NP
  • C
  • U
  • CUSUM
  • EWMA
  • UWMS
  • carte de contrôle multivariée
  • Règles de Western Electric
  • Test des causes spéciales
  • P' et U' de Laney
  • Levey-Jennings
  • Carte de contrôle multivariée déterminée par modèle

Capabilité du processus (indices de capabilité)

  • Cp
  • Cpk
  • Pp
  • Ppk
  • Limites de spécification
  • graphique d’objectif
  • Capabilité
  • Performance

Évaluation de la qualité (Criblage des processus)

  • Indice de stabilité
  • Vérification de la qualité
  • Détection de décalage
  • Performance des processus

Analyse des systèmes de mesure

  • Évaluation des processus de mesure
  • Gage R&R
  • Gage R&R type 1
  • Graphe de variabilité
  • Linéarité, biais
  • Kappa
  • Concordance
  • Attribute Gage R&R
  • composants de la variance
  • Plan MSA

Amélioration de la qualité (Six Sigma)

  • Diagramme de Pareto
  • Diagramme de cause et effet (arête de poisson, Ishikawa)
  • Niveau de qualité Six Sigma (taille d'échantillon)

Échantillonnage d'acceptation

  • Courbes caractéristiques du test