- IR
- X-Barra R
- X-Barra S
- P
- NP
- C
- U
- CUSUM
- EWMA
- UWMS
- Gráfico de control multivariante
- Reglas de la Western Electric
- Pruebas para causas especiales
- P' y U' de Laney
- Levey-Jennings
- Gráfico de control multivariante controlado por el modelo
- Cp
- Cpk
- Pp
- Ppk
- Límites de especificación
- Gráfico de portería
- Capacidad
- Rendimiento
- Índice de estabilidad
- Revisión de calidad
- Detección de desplazamiento
- Rendimiento del proceso
- Evaluación del proceso de medición (EMP)
- Estudio R&R de sistemas de medición
- Estudio R&R de sistemas de medición tipo 1
- Gráfico de variabilidad
- Linealidad, sesgo
- Kappa
- Concordancia
- Estudio R&R de sistemas de medición por atributos
- componentes de varianza
- Diseño MSA
- Diagrama de Pareto
- Diagrama de causa-efecto (espina de pescado, Ishikawa)
- Nivel de calidad Seis Sigma (tamaño muestral)