전 세계 상위 25개 반도체 기업 모두가 JMP를 사용합니다.
통합 및 제품 관리 부문
- 신제품과 기존 제품에서 수율 개선이 가능한 부분을 신속하게 파악할 수 있습니다.
- 데이터 중심의 근본 원인 분석 조사를 통해 폐기물과 이탈 복구를 줄일 수 있습니다.
- 대화형 웨이퍼 맵을 쉽게 제작할 수 있습니다.
- 효율적인 분할 계획을 통해 고객 요구사항을 충족하는 데 필요한 정보를 신속하게 확보할 수 있습니다.
- 광범위한 데이터 모음에서 실행 가능한 통찰력을 효율적으로 도출할 수 있습니다.
- 의사결정자와 고객에게 탁월한 데이터 통찰력을 제시할 수 있습니다.
공정 및 장비 엔지니어링 부문
- 새로운 공정 도구를 신속히 검증하여 낮은 오류 발생율로 생산에 도입할 수 있습니다.
- 강력한 새로운 기법을 개발하고 기존 기법을 조정하기 위한 실험을 설계할 수 있습니다.
- 일상 업무를 자동화하여 분석 속도와 품질을 개선할 수 있습니다.
- 대화형 웨이퍼 맵을 쉽게 제작할 수 있습니다.
- 드리프트 또는 결함을 신속하게 찾아내서 해결할 수 있습니다.
- 공정을 효율적으로 모니터링하여 일관된 품질을 보장할 수 있습니다.
신뢰성 부문
- 검정 계획을 신속하게 설계하고 필요한 표본 크기를 정의할 수 있습니다.
- 정확하게 시뮬레이션하고 고장률을 예측할 수 있습니다.
- 결과를 대화식으로 의사결정자에게 제시할 수 있습니다.
- 공정, 전압, 온도 및 빈도와 같은 여러 요인에 의존하는 고장까지 시간 모형을 생성할 수 있습니다.
수율 및 품질 부문
- 보고서 및 시각화 자료를 신속하게 개발하여 문제가 발현되기 전에 효과적으로 파악할 수 있습니다.
- 효율적인 데이터 수집 계획을 신속하게 수립하여 조사 지침으로 활용할 수 있습니다.
- 근본 원인 분석 조사에 머신 러닝 및 AI 모형을 보다 효율적으로 활용할 수 있습니다.
- 대화형 웨이퍼 맵을 쉽게 제작할 수 있습니다.
- 광범위한 소스의 다양한 데이터 집합을 효율적으로 관리하고 조작할 수 있습니다.
260%
엔지니어들의 직무 만족도를 향상
비쉐이(Vishay)
“JMP®를 통해 실현 가능한 성과 - 회사에 지속적인 가치 제공”
Seagate
83%
공정 능력 지수 개선
Polar Semiconductor
반도체 산업에서 JMP 활용도
실험계획법(DOE)
맞춤형 실험 시리즈를 생성하여 각 웨이퍼에서 최대량의 정보를 확보할 수 있습니다.
확증적 선별 설계
각 실험 로트에서 이전보다 더 많은 정보를 확보하여 공정을 더 빠르게 최적화할 수 있습니다.
데이터 마이닝
머신러닝, AI 및 전통적 데이터 마이닝 기법을 활용하여 숨겨진 통찰력을 찾아내고 문제의 잠재적 근본 원인을 신속하게 파악할 수 있습니다.
데이터 시각화
JMP는 동적 그래픽을 강력한 통계량과 연결하여 찾아낸 결과를 대화식으로 공유합니다. 새로운 문제가 발생할 때 명령을 다시 실행하거나 분석 흐름을 벗어나지 않고도 데이터를 탐색합니다.
품질 및 공정 능력 분석
우수한 품질의 대시보드인 JMP의 공정 선별 플랫폼을 활용하여 주의가 요구되는 변수를 신속하게 판별하고 통제 불능 이벤트가 발현되기 전에 식별합니다.
패턴 탐색
대용량 데이터 집합에서도 데이터의 예기치 않은 패턴을 보다 효율적으로 식별하여 데이터 무결성을 조사합니다.