この例では、サンプルデータフォルダ内の「Reliability」フォルダにある「Capacitor ALT.jmp」を使用します。これは、仮想的な信頼性試験データで、3水準の温度に対して故障数と打ち切り数を乱数シミュレーションしたものです。データは、摂氏85度・105度・125度の温度で、右側打ち切りで試験したものになっています。
1.
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2.
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[分析]>[信頼性/生存時間分析]>[寿命の二変量]を選択します。
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3.
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「時間」を[Y, イベントまでの時間]に指定します。
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「温度」を[X]に指定します。
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5.
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「打ち切り」を[打ち切り]に指定します。
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6.
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「打ち切りの値」は[1]をそのまま使います。
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7.
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「度数」を[度数]に指定します。
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8.
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9.
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「分布」のドロップダウンリストから[Weibull]を選びます。
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10.
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「信頼区間の方法」は[Wald]のままにしておきます。
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設定後の起動ウィンドウは「寿命の二変量」起動ウィンドウのようになります。
図4.22 「寿命の二変量」起動ウィンドウ
11.
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[OK]をクリックします。
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「Capacitor ALT.jmp」データの「寿命の二変量」レポートウィンドウには、「寿命の二変量」レポートウィンドウの上半分が表示されています。