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公開日: 04/01/2021

グループ全体で一定の標本サイズを使用した例

この例で使用する「Failures.jmp」サンプルデータは、「度数」の列がある不適合のデータであり、集積回路(IC)の2つの製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数を種類別にまとめたものです。この例では、一定の標本サイズとして1000を指定します。

1. [ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Quality Control」フォルダにある「Failures.jmp」を開きます。

2. [分析]>[品質と工程]>[パレート図]を選択します。

3. 「原因」を選択して、[Y, 原因]をクリックします。

4. 「プロセス」を選択し、[X, グループ変数]をクリックします。

5. 「度数」を選択し、[度数]をクリックします。

6. [ユニットあたりの分析]を選択し、[定数]を選択します。

7. 「標本サイズ」「1000」を入力します。

8. [OK]をクリックします。

図N.10 「パレート図」レポートウィンドウ 

Image shown here

「Process A」では、「Contamination」が不適合の一番の要因となっていますが、「Process B」では「Oxide Defect」が有力要因となっています。

9. 「パレート図」の赤い三角ボタンをクリックし、[度数分析]>[グループ間の比率の検定]を選択します。

図N.11 [グループ間の比率の検定]の結果 

Image shown here

「Contamination」によるユニットあたりの度数(DPU)のグループ間(Process AとProcess B)の差は約0.06になっています。

より詳細な情報が必要な場合や、質問があるときは、JMPユーザーコミュニティで答えを見つけましょう (community.jmp.com).