この例で使用する「Failuressize.jmp」サンプルデータは、「度数」の列がある不適合のデータであり、集積回路(IC)の2つの製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数を種類別にまとめたものです。諸原因(「Oxide Defect」や「Silicon Defect」など)の下に、「size」という値になっている行があります。原因コードとして「size」を指定して、該当する行を、標本サイズを含む行として指定します。
1. [ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Quality Control」フォルダにある「Failuressize.jmp」を開きます。
2. [分析]>[品質と工程]>[パレート図]を選択します。
3. 「原因」を選択して、[Y, 原因]をクリックします。
4. 「プロセス」を選択し、[X, グループ変数]をクリックします。
5. 「度数」を選択し、[度数]をクリックします。
6. [ユニットあたりの分析]を選択し、[度数列の値]を選択します。
7. 「原因コード」に「size」と入力します。
8. [OK]をクリックします。
図N.12 「パレート図」レポートウィンドウ
9. 「パレート図」の赤い三角ボタンをクリックし、[度数分析]> [ユニットあたりの比率]と[度数分析]>[グループ間の比率の検定]を選択します。
図N.13 [ユニットあたりの比率]と[グループ間の比率の検定]の結果
グループAの原因には標本サイズを101としてDPUを計算しています。一方、グループBの原因には標本サイズを145としてDPUを計算しています。
もしも2つのグループ変数(たとえば「日付」と「プロセス」)がある場合は、「ユニットあたりの比率」表には、各原因の「日付」と「プロセス」のすべての組み合わせに対して、比率(DPU)が表示されます。ただし、[グループ間の比率の検定]では、1つ1つのグループ間での差だけが検定されます。