コンデンサの加速寿命試験
この例では、サンプルデータフォルダ内の「Reliability」フォルダにある「Capacitor ALT.jmp」を使用します。これは、仮想的な信頼性試験データで、3水準の温度に対して故障数と打ち切り数を乱数シミュレーションしたものです。データは、摂氏85度・105度・125度の温度で、右側打ち切りで試験したものになっています。
1. ［ヘルプ］>［サンプルデータライブラリ］を選択し、「Reliability」フォルダにある「Capacitor ALT.jmp」を開きます。
2. ［分析］>［信頼性/生存時間分析］>［寿命の二変量］を選択します。
3. 「時間」を［Y, イベントまでの時間］に指定します。
4. 「温度」を［X］に指定します。
5. 「打ち切り」を選択し、［打ち切り］に指定します。
6. 「打ち切りの値」には［打ち切り］をそのまま使います。
7. 「度数」を［度数］に指定します。
8. 「関係」ドロップダウンリストで［Arrhenius摂氏］が選択され、［包含モデルの検定］チェックボックスがオンになっていることを確認します。
9. 「分布」のドロップダウンリストから［Weibull］を選びます。
10. 「信頼区間の方法」は［Wald］のままにしておきます。
図4.21 「寿命の二変量」起動ウィンドウ
11. ［OK］をクリックします。
図4.22 「Capacitor ALT.jmp」データの「寿命の二変量」レポートウィンドウ
レポートウィンドウには、データの要約情報・診断プロット・モデルの比較結果・パラメータ推定値・プロファイルなどが表示されます。また、あてはめた確率分布ごとに、推定値などの結果や、「分布」・「分位点」・「ハザード」・「密度」・「加速係数」のプロファイルが表示されます。