この例では、パレート図を使用して、2つの異なる工程の集積回路の製造工程で生じる不適合の原因を比較します。各工程の標本サイズは一定で、1000です。この例のデータテーブルは、不適合の原因と、不適合が生じた回数を種類別にまとめたものです。
1. [ヘルプ]>[サンプルデータフォルダ]を選択し、「Quality Control」フォルダにある「Failures.jmp」を開きます。
2. [分析]>[品質と工程]>[パレート図]を選択します。
3. 「原因」を選択して、[Y, 原因]をクリックします。
4. [プロセス]を選択し、[X, グループ変数]をクリックします。
5. 「度数」を選択し、[度数]をクリックします。
6. [ユニットあたりの分析]を選択し、[定数]を選択します。
7. 「標本サイズ」に「1000」を入力します。
8. [OK]をクリックします。
図15.9 「パレート図」レポートウィンドウ
「Process A」では、「Contamination」が不適合の一番の要因となっていますが、「Process B」では「Oxide Defect」が一番の要因となっています。
9. 「パレート図」の赤い三角ボタンをクリックし、[グループ間の比率の検定]を選択します。
図15.10 [グループ間の比率の検定]の結果
「Contamination」によるユニットあたりの度数(DPU)のグループ間(Process AとProcess B)の差は約0.06になっています。