电容示例

本例使用 Capacitor ALT.jmp，该数据表位于样本数据的 Reliability 文件夹中。其中包含用于可靠性研究的模拟数据，这些数据提供了三个温度水平下的删失观测。观测显示为温度水平 85、105 和 125 摄氏度下的删失值。

1. 选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Reliability/Capacitor ALT.jmp。

2. 选择分析 > 可靠性和生存 > 以 X 拟合寿命。

3. 选择小时数并点击 Y，事件时间。

4. 选择温度并点击 X。

5. 选择删失并点击删失。

6. 保留删失代码为 1。

7. 选择频数作为频数。

8. 保留 Arrhenius 摄氏温度作为关系，并保持选定嵌套模型检验选项。

9. 将 Weibull 选作分布。

10. 将 Wald 选作置信区间方法。

图 4.22 “以 X 拟合寿命”启动窗口 

11. 点击确定。

图 4.23 Capacitor ALT.jmp 数据的“以 X 拟合寿命”报表窗口 

该报表窗口显示汇总数据、诊断图、比较数据和结果，包括详细的统计学和预测刻画器。为每个选定分布都显示单独的结果部分。每个指定分布都包含“分布刻画器”、“分位数刻画器”、“危险率刻画器”、“密度刻画器”和“加速因子刻画器”。

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