过程筛选的示例

Semiconductor Capability.jmp 样本数据表包含 128 列过程测量值。每个列包含 1,455 个测量值。您想确定哪些过程不稳定。此外，每个列包含“规格限”列属性。若过程稳定，则适合计算过程能力。接下来针对该数据表您要评估过程的稳定性和能力。

1. 选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Semiconductor Capability.jmp。

2. 选择分析 > 筛选 > 过程筛选。

3. 选择 Processes 列组并点击过程变量。

请注意将“控制图类型”设置为“单值和 MR”。

4. 点击确定。

图 22.2 初始报表的部分视图 

“过程筛选”窗口出现时，显示每个过程的结果表。该表按“稳定性指标”排序。这是过程的稳定性测度，其中稳定过程的稳定性指标接近 1。稳定性指标值越高表示过程越不稳定。（该排序由报表中“稳定性指标”旁边的插入符号表示。）您想更仔细查看稳定性指标值大于等于 1.03 的过程。

5. 在报表窗口中，选择过程 PMS1 到 IVP9。

前 11 个过程在“稳定性指标”列中的值均为 1.03 或更大。

6. 右击选定的过程并选择选定项的快速图形。

图 22.3 最高报警率过程的快速图形 

您决定更仔细查看 IVP8（选定项的图形中的第 3 行，第 1 列）。

7. 在“汇总”表中选择第二个过程，它对应于 IVP8。

8. 右击选定的过程并选择选定项的控制图。

图 22.4 IVP8 的“控制图生成器”报表 

将显示“控制图生成器”报表。因为 IVP8 有“规格限”列属性，该报表还包含能力分析。

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