区间删失的加速失效时间模型

ICdevice02.jmp 数据显示在检查间隔之间发生的失效数。该模型使用两个 y 变量，包含失效时间的上限和下限。右删失时间显示为上限缺失。

注意：ICdevice02.jmp 中的数据来自 Meeker and Escobar (1998, p. 640)。

1. 选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Reliability/ICdevice02.jmp。

2. 选择分析 > 可靠性和生存 > 拟合参数生存。

3. 选择 HoursL 和 HoursU 并点击事件时间。

4. 选择计数并点击频数。

5. 选择 x 并点击添加。

6. 点击运行。

图 14.12 ICDevice 输出 

生成的回归显示度数-时间图。

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