“每单位计数”计算器的示例

考虑晶片制造过程，目标值为每个晶片 4 个或更少的缺陷。您想验证新过程是否满足目标要求。在 0.05 显著性水平下，要使功率为 90%，您应检验多少晶片来检测差值 1（与每个晶片的目标缺陷计数相比）？

1. 选择实验设计 > 设计诊断 > 样本大小与功效。

2. 点击每单位计数。

1. 保留 Alpha 为 0.05（若新过程和目标一样好但检验失败的机会）。

2. 输入 4 作为每单位的基准计数，指示目标是每个晶片有 4 个缺陷。

3. 输入 1 作为待检差值。

4. 输入功率值 0.9。

这是检测大于 1 的变动的机会，它等价于每个晶片有 5 个或更多缺陷。在这种情形下，显著性水平 (alpha) 有时称为生产者的风险，功效 (beta) 称为消费者的风险。

5. 点击继续。

图 17.14 “每单位计数”计算器 

您必须检验 38 个晶片。若缺陷数少于 173，则该过程满足目标。

注意：173 个缺陷是在拒绝原假设的情况下 38 个晶片中允许的最大缺陷数。

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