质量和过程方法 • Pareto 图 • “Pareto 图”平台示例
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“Pareto 图”平台示例
本例使用 Failure.jmp 样本数据表，其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因，以及每种类型缺陷出现的次数。从分析中，您可以确定导致过程失败的最重要因子。
1.
选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Quality Control/Failure.jmp。
2.
选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图。
3.
选择失败并点击 Y，原因。
该列列出失败原因。它是您要检查的变量。
4.
选择数量并点击频数。
该列列出每种类型的失败出现的次数。
5.
点击确定。
图 12.2 “Pareto 图”报表窗口
左轴表示失败计数，右轴表示每一类别中的失败百分比。直条采用降序排序，出现最频繁的失败原因位于左侧。曲线从左到右指示累积失败情况。
6.
从“Pareto 图”旁边的红色小三角菜单中选择添加累积百分比点标签。
请注意，“Contamination”占失败总数的 45% 左右。“Oxide Defect”直条上方的点显示“Contamination”和“Oxide Defect”合起来共占了失败总数的 71% 左右。
7.
从红色小三角菜单中，取消选择添加累积百分比点标签和显示累积百分比曲线。
8.
点击标记为 N 的 y 轴，将它重命名为计数。
9.
双击 y 轴以显示 Y 轴设置窗口。
‒
在最大值字段中，键入 15。
‒
在增量字段中，键入 2。
‒
在轴标签行面板中，为主网格线选择网格线。
‒
点击确定。
10.
从红色小三角菜单中，选择类别图例。
图 12.3 带有显示选项的 Pareto 图
图 12.3显示不同类型的失败计数，并显示类别图例。垂直计数轴的尺度经过调整，在主刻度标处显示网格线。
11.
要以饼图形式显示数据，请从红色小三角菜单中选择“饼图”。
图 12.4 显示为饼图的 Pareto 图
很明显，“Contamination”和“Oxide Defect”是失败的主要原因。