本例使用 Semiconductor Capability.jmp 样本数据表。变量表示半导体生产商在加工晶片过程中可能采用的标准测量值。通过“列属性”>“规格限”属性在数据表中输入了变量的规格限。
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选择分析 > 质量和过程 > 过程能力。
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点击过程旁边的白色小三角，查看所有连续变量。
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点击确定。
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从目标图红色小三角菜单中选择添加总 Sigma 点标签。
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从“能力指标图”红色小三角菜单中选择添加总 Sigma 点标签。
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图 11.2中的目标图为每个变量在 x 轴上显示规格标准化均值偏移，以及在 y 轴上显示规格标准化标准差。图下方中心处红线定义的三角区域是目标三角形。它定义了能力指标值的区域。您可以使用图下方的 Ppk 滑块来调整目标三角形。当滑块设置为 1 时，请注意 PNP1、PNP3、IVP1 和 IVP2 均位于目标三角形之外，所以很可能超出规格范围。