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区间删失的加速失效时间模型
ICdevice02.jmp 数据显示在检查间隔之间发生的失效数。该模型使用两个 y 变量，包含失效时间的上限和下限。右删失时间显示为上限缺失。
注意：ICdevice02.jmp 中的数据来自 Meeker and Escobar (1998, p. 640)。
1.
选择帮助 > 样本数据库，然后打开 Reliability/ICdevice02.jmp。
2.
选择分析 > 可靠性和生存 > 拟合参数生存。
3.
选择 HoursL 和 HoursU 并点击事件时间。
4.
选择计数并点击频数。
5.
选择 x 并点击添加。
6.
点击运行。
图 14.12 ICDevice 输出
生成的回归显示度数-时间图。