本例使用 Capacitor ALT.jmp,该数据表位于样本数据的 Reliability 文件夹中。其中包含用于可靠性研究的模拟数据,这些数据提供了三个温度水平下的删失观测。观测显示为温度水平 85、105 和 125 摄氏度下的删失值。
1. 选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Reliability/Capacitor ALT.jmp。
2. 选择分析 > 可靠性和生存 > 以 X 拟合寿命。
3. 选择小时数并点击 Y,事件时间。
4. 选择温度并点击 X。
5. 选择删失并点击删失。
6. 保留删失代码为 1。
7. 选择频数作为频数。
8. 保留 Arrhenius 摄氏温度作为关系,并保持选定嵌套模型检验选项。
9. 将 Weibull 选作分布。
10. 将 Wald 选作置信区间方法。
“以 X 拟合寿命”启动窗口
11. 点击确定。
Capacitor ALT.jmp 数据的“以 X 拟合寿命”报表窗口
该报表窗口显示汇总数据、诊断图、比较数据和结果,包括详细的统计学和预测刻画器。为每个选定分布都显示单独的结果部分。每个指定分布都包含“分布刻画器”、“分位数刻画器”、“危险率刻画器”、“密度刻画器”和“加速因子刻画器”。