考虑晶片制造过程,目标值为每个晶片 4 个或更少的缺陷。您想验证新过程是否满足目标要求。在 0.05 显著性水平下,要使功率为 90%,您应检验多少晶片来检测差值 1(与每个晶片的目标缺陷计数相比)?
1. 选择实验设计 > 设计诊断 > 样本大小与功效。
2. 点击每单位计数。
1. 保留 Alpha 为 0.05(若新过程和目标一样好但检验失败的机会)。
2. 输入 4 作为每单位的基准计数,指示目标是每个晶片有 4 个缺陷。
3. 输入 1 作为待检差值。
4. 输入功率值 0.9。
这是检测大于 1 的变动的机会,它等价于每个晶片有 5 个或更多缺陷。在这种情形下,显著性水平 (alpha) 有时称为生产者的风险,功效 (beta) 称为消费者的风险。
5. 点击继续。
“每单位计数”计算器