假定您负责两条硅晶片装配线。根据很多次试验的了解,其中一条装配线的缺陷率为 8%,另一条装配线的缺陷率为 6%。您想知道在功效为 80% 时得出缺陷率有差异结论所需的样本大小。
1. 选择实验设计 > 设计诊断 > 样本大小与功效。
2. 点击双样本比例。
3. 将 Alpha 设置为 0.05。
4. 为比例 1 输入 0.08。
5. 为比例 2 输入 0.06。
6. 选择双侧检验。
7. 为原假设比例差值输入 0。
8. 将样本大小 1 和样本大小 2 留空。
9. 为功效输入 0.8。
10. 点击继续。
针对双侧检验的双比例差值
计算器显示您应对每条生产线检验 2,554 个晶片的样本大小,才能检测缺陷率差异。