ICdevice02.jmp 数据显示在检查间隔之间发生的失效数。该模型使用两个 y 变量,包含失效时间的上限和下限。右删失时间显示为上限缺失。
注意:ICdevice02.jmp 中的数据来自 Meeker and Escobar (1998, p. 640)。
1. 选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Reliability/ICdevice02.jmp。
2. 选择分析 > 可靠性和生存 > 拟合参数生存。
3. 选择 HoursL 和 HoursU 并点击事件时间。
4. 选择计数并点击频数。
5. 选择 x 并点击添加。
6. 点击运行。
ICDevice 输出
生成的回归显示度数-时间图。