實現智慧製程監控：從不良晶圓問題偵測到快速決策

課程介紹：

從研發設計、製程監控到產品品質管理，數據在半導體產業扮演著越來越重要的角色。如何從海量數據中快速精準地找出潛在問題，是提升產品良率的關鍵。本次隨選研討會將分享如何利用JMP的全面性分析工具，實現製程問題診斷，全面提升產品品質與穩定度。

智慧化監控及診斷製程問題，以偵測不良晶圓為例

JMP資深顧問將以不良晶圓的判斷為例，展示如何巧妙地運用互動性圖形分析工具Graph Builder及SPC，包含Process Screening與Control Chart的功能，快速獲取和比較參數統計量及各種指標，有效監控管制製程並快速的判斷各參數或是指標的表現。