智慧过程监控与自动化报表生成：从品质问题侦测到快速决策

智慧过程监控与自动化报表生成：从品质问题侦测到快速决策

从研发设计、过程监控到产品品质管理，数据在半导体产业扮演着越来越重要的角色。如何从海量数据中快速精准地找出潜在问题，是提升产品良率的关键。本次随选研讨会将分享如何利用JMP的全面性分析工具，实现从过程问题诊断到测试报告生成的数据驱动，全面提升产品品质与稳定度。

1) 智慧化监控及诊断过程问题，以侦测不良晶圆为例

JMP资深顾问Eric将以不良晶圆的判断为例，展示如何巧妙地运用互动性图形分析工具Graph Builder及SPC，包含Process Screening与Control Chart的功能，快速获取和比较参数统计量及各种指标，有效监控管制过程并快速的判断各参数或是指标的表现。