网络点播

工艺优化实战：分析关键参数的3种常用统计分析方法

工艺优化实战：分析关键参数的3种常用统计分析方法

在半导体与高科技产业，工艺优化和效能至关重要。身为品质工程师的您，是否曾面临过以下的工作挑战：

  • 常常在工艺出现问题时，不清楚该使用何种分析方法？
  • 花费大量时间在比较众多的制程参数图形，却无法快速找出问题参数？
  • 难以解读分析结果，无法有效应用在日常的制程优化工作中？

本课程针对【工艺优化】的主题进行分享，透过数个实际案例搭配统计分析方法，帮助您了解如何巧妙地将统计方法应用在日常分析工作当中，无论您是处于半导体、化学、电子零组件或医药等产业皆能适用。

课程大纲：

 

  • 找出工艺问题或关键因子
    • 案例讲解
    • 常用分析方法：回归分析
    • 回归分析的概念与适用场景
  • 新旧工艺改善前后比较
    • 案例讲解
    • 常用分析方法：T检定
    • T检定的概念、类型与适用场景
  • 进料厂商来料比较、机台性能比较
    • 案例讲解
    • 常用分析方法：T检定、ANOVA
    • ANOVA的概念与适用场景

注册该研讨会，可获得《制程优化实战：案例解析电子书》

 

注册并观看课程

*
*
*
*
*
*
*
*
*
  我要订阅JMP Newswire，JMP每月新闻通讯。（英文）
  是的，您可以不定期发送JMP相关产品和服务的邮件给我。我可以随时选择取消订阅邮件。

JMP和所有其他JMP Statistical Discovery LLC的产品或服务名称均为JMP Statistical Discovery LLC在美国和其他国家/地区的注册商标或商标。®表示在美国注册。其他品牌和产品名称是其各自所有者的商标。


版权所有© JMP Statistical Discovery LLC.保留所有权利。

JMP Statistical Discovery LLC, SAS Campus Drive, Cary, NC 27513, USA