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每单位计数示例
举个例子，考虑晶片制造过程，目标值为每个晶片 4 个缺陷。您想验证在显著性水平为 0.05 时，新过程是否满足每个晶片缺陷差值不大于 1 的目标。在“每单位计数”窗口中：
1.
保留 Alpha 为 0.05（若新过程和目标一样好但检验失败的机会）。
2.
输入 4 作为每单位的基准计数，指示目标是每个晶片有 4 个缺陷。
3.
输入 1 作为待检差值。
4.
输入功效为 0.9，即检测到差值大于 1（每个晶片 5 个缺陷）的机会。在这种情形下，alpha 有时称为生产者的风险，beta 称为消费者的风险。
5.
点击继续以得到“每单位计数”示例的窗口中的结果，其中显示了计算出的样本大小为 38（舍入到下一整数）。
若缺陷数小于 190（在 38 个晶片的样本中，每个晶片有 5 个缺陷），则过程满足目标。
“每单位计数”示例的窗口