ここでは、集積回路（IC）の製造工程で生じる不適合の原因をまとめた「Failure3.jmp」データテーブルを使います。不適合の原因と、不適合が生じる状況を調べてみましょう。
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［ヘルプ］>［サンプルデータライブラリ］を選択し、「Quality Control/Failure3.jmp」を開きます。
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［グラフ］>［旧機能］>［ツリーマップ］を選択します。
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「度数」を選択し、［サイズ］をクリックします。
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「洗浄」を選択し、［色分け］をクリックします。
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［OK］をクリックします。
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図11.18 不適合の原因
不適合の原因からは次のようなことがわかります。