この例で使用する「Failuressize.jmp」サンプルデータは、「度数」の列がある不適合のデータであり、 集積回路（IC）の2つの製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数をその種類別にまとめたものです。諸原因（「Oxide Defect」や「Silicon Defect」など）の下に、「size」という値になっている行があります。原因コードとして「size」を指定して、該当する行を、標本サイズを含む行として指定します。
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［分析］>［品質と工程］>［パレート図］を選択します。
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「原因」を選択して、［Y, 原因］をクリックします。
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「プロセス」を選択し、［X, グループ変数］をクリックします。
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「度数」を選択し、［度数］をクリックします。
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［ユニットあたりの分析］を選択し、［度数列の値］を選択します。
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「原因コード」に「size」と入力します。
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［OK］をクリックします。
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図12.12 「パレート図」レポートウィンドウ
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9.
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