この例で使用する「Failure.jmp」サンプルデータは、「度数」の列がある不適合のデータであり、 集積回路（IC）の製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数を種類別にまとめたものです。ここでは、工程に不適合を生じさせる一番の原因を探し出します。
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［分析］>［品質と工程］>［パレート図］を選択します。
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「原因」を選択して、［Y, 原因］をクリックします。
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「度数」を選択し、［度数］をクリックします。
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［OK］をクリックします。
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図12.2 「パレート図」レポートウィンドウ
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「パレート図」の横にある赤い三角ボタンのメニューから［累積パーセント点のラベル］を選択します。
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Y軸が、「度数」というラベルになっていることを確認します。
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Y軸をダブルクリックして「Y軸の設定」ウィンドウを表示します。
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「最大値」フィールドに「15」と入力します。
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「目盛り間隔」フィールドに「2」と入力します。
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［OK］をクリックします。
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赤い三角ボタンのメニューから［カテゴリの凡例］を選択します。
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図12.3 表示オプションを適用したパレート図
表示オプションを適用したパレート図には、異なる種類の不適合の度数が、その凡例とともに表示されています。また、度数を示す縦軸のスケールを変更し、主目盛りにグリッド線を表示しています。
図12.4 円グラフを使ったパレート図
