この例で使用する「Failure.jmp」サンプルデータは、「度数」の列がある不適合のデータであり、集積回路(IC)の製造工程で生じる不適合の原因と、不適合が生じた回数を種類別にまとめたものです。この例では、閾値として2を指定します。
1. [ヘルプ]>[サンプルデータライブラリ]を選択し、「Quality Control」フォルダにある「Failure.jmp」を開きます。
2. [分析]>[品質と工程]>[パレート図]を選択します。
3. 「原因」を選択して、[Y, 原因]をクリックします。
4. 「度数」を選択し、[度数]をクリックします。
5. [原因を組み合わせる]を選択し、その下にあるドロップダウンボックスで[度数]を選択します。
6. 閾値として「2」と入力します。
7. [OK]をクリックします。
図N.8 度数の閾値に2を指定したパレート図
図N.8は、度数に対して2という閾値を指定した結果のパレート図です。「4 その他」という名前の棒に、度数が2以下の原因がすべて組み合わされています。
8. 組み合わされている棒を図N.9に示すように元に戻すには、[原因]>[原因の分離]を選択します。
図N.9 原因を分離したパレート図