この例のデータテーブルには、観測中の特定の区間内に発生した故障が含まれています。データには、各区間の下限と上限を表す2つのY変数があります。上限が欠測値になっている行は、右側打ち切りデータです。
1. [ヘルプ]>[サンプルデータフォルダ]を選択し、「Reliability」フォルダにある「ICdevice02.jmp」を開きます。
2. [分析]>[信頼性/生存時間分析]>[生存時間(パラメトリック)のあてはめ]を選択します。
3. 「時間L」と「時間U」を[イベントまでの時間]に指定します。
4. 「カウント」を選択し、[度数]をクリックします。
5. 「x」を選択し、[追加]をクリックします。
6. [実行]をクリックします。
図15.12 「ICDevice02」のレポート
回帰モデルを推定した結果と、時間と温度のプロットが表示されます。