タイプ1ゲージ分析によって、ある測定システムの繰り返し性(併行精度)を評価てみましょう。
1. [ヘルプ]>[サンプルデータフォルダ]を選択し、「Variability Data」フォルダにある「Type 1 Gauge
MSA.jmp」を開きます。
2. データテーブルの「列」セクションで、Y1のアスタリスクをクリックして、「測定システム分析」列プロパティを選択します。
図5.2 「測定システム分析」列プロパティ
「Y1」列には、「測定システム分析」列プロパティが予め保存されています。この「測定システム分析」列プロパティには、タイプ1ゲージ分析で使用されるメタデータが含まれています。メタデータとしては、許容範囲(tolerance)、測定の分解能(measurement resolution)、基準値(reference value)などがあります。この例では、基準値は50.014です。
3. [キャンセル]をクリックして列情報ウィンドウを閉じます。
4. [分析]>[品質と工程]>[測定システム分析]を選択します。
5. 「分析方法」を[タイプ1ゲージ]に設定します。
6. 「タイプ1ゲージ分析のメタデータ入力ダイアログの表示」で、[必要なら表示する]を選択します。
7. 「Y1」を選択し、[Y, 応答変数]をクリックします。
8. [OK]をクリックします。
9. ランチャートの赤い三角ボタンをクリックして、[平均の表示]を選択します。
図5.3 Y1の「タイプ1ゲージ分析」レポート
ランチャートでは、測定値の平均が基準値(reference)に近く、すべての測定値が基準値±0.1許容範囲の中にあることが示されています。また、ランチャートでは、測定値のばらつきも見ることができます。測定値のばらつきを理解するために、「要約や測定能力の統計量」の表を確認してください。CgとCgKの値は、それぞれ1.399と1.323です。これらの値は、CgとCgKの理想的な値である1.33以上に近い値です。そのため、この測定システムは繰り返し性があると見なされます。