「反復測定劣化」プラットフォームにある「Bayes推定」レポートの「故障分布プロファイル」セクションには、MCMC法によって事後分布標本から生成された標本に基づくプロファイルが表示されます。プロファイルを描くために用いた乱数シミュレーションの設定に関する要約が先頭に表示されています。そして、故障分布のプロファイルおよび分位点のプロファイルが示されています。これらのプロファイルを使用して、時間の経過に伴う故障確率や、ある故障確率に達する時間についての推測を行えます。プロファイルとそのオプションの詳細については、『プロファイル機能』のプロファイルを参照してください。
ヒント: プロファイルを描くのに用いている乱数データを変更するには、「Bayes推定 <N>」の赤い三角ボタンのメニューから［故障分布プロファイルの変更］オプションを選択してください。