发布日期: 04/13/2021

计数控制图

在之前的各种图中,测量值数据均为过程变量。该类型的数据往往是连续的,所以这些图基于适用于连续数据的原理。另一种类型的数据是计数数据,其中关注的变量是每个子组的缺陷数或瑕疵数的离散计数。离散计数数据适用于计数图,因为这些数据基于二项模型和 Poisson 模型。由于是按子组来测量计数,所以在比较各图时,确定各图之间的子组中项数是否相似这点很重要。计数图和计量图一样,按照在图上标绘的子组样本统计量来分类。

确定使用哪一种计数图

每项若非合格即为不合格:

p 图

显示缺陷项的比例。

np 图

显示缺陷项的数目。

对于每项计算缺陷数:

c 图

显示缺陷项的显示缺陷项的数目。

u 图

显示缺陷项的显示缺陷项的数目。

对于计数图,将包含缺陷计数或缺陷比例的列指定为“过程”变量。数据被解释为计数,除非该列包含 0 到 1 之间的非整数值。

P 图显示子组样本(大小可能会发生变化)中不合格(缺陷)项的比例。由于 P 图的每个子组都包含 Ni 项,而且任一项若非合格即为不合格,所以子组中的不合格项的最大数目为 Ni

NP 图显示子组样本中不合格(缺陷)项的数目。由于 NP 图的每个子组都包含 Ni 项,而且任一项若非合格即为不合格,所以子组 i 中的不合格项的最大数目为 Ni

注意:要对 P 图或 NP 图使用 Sigma 列属性,该值需要等于比例。JMP 将 sigma 计算为比例和样本大小的函数。

C 图显示子组样本(通常但不一定总是包含一个检查单位)中不合格项(缺陷项)的数目。

警告:对于 C 图,若您未指定“样本大小”或“常数大小”,则将“样本标签”作为样本大小。

U 图显示在可能包含不同数目检查单位的每个子组样本中不合格项(缺陷项)的比例。

警告:对于 U 图,若您未指定“单位大小”或“常数大小”,则将“样本标签”作为单位大小。

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