刻画器指南 > 模拟器 > 缺陷刻画器 > 模拟方法和详细信息
发布日期: 04/13/2021

模拟方法和详细信息

假定 X2X3 存在随机变异,您想进行因子 X1 的缺陷刻画。在 X1 的等间距值网格的 k 个点的每一个点执行一系列 n =“试验次数”的模拟试验。(默认情况下,k 设置为 17。)在每个网格点,由于规格限,假定有 m 个缺陷。在该网格点,缺陷率为 m/n。这些缺陷率被连接和标绘为 X1 的连续函数。

需要更多信息?有问题?从 JMP 用户社区得到解答 (community.jmp.com).