本例使用 Failuressize.jmp 样本数据表,其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因,以及两个过程中出现每种类型缺陷的次数。在其他原因(氧化层缺陷、硅缺陷等)中,有一种原因标记为 size。将大小指定为原因代码,即可将行指定为大小行。
1. 选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Quality Control/Failuressize.jmp。
2. 选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图。
3. 选择失败原因并点击 Y,原因。
4. 选择工序并点击 X,分组。
5. 选择计数并点击频数。
6. 选择每单位分析,然后选择频数列中的值。
7. 在代码原因中输入 size。
8. 点击确定。
图 13.12 “Pareto 图”报表窗口
9. 点击“Pareto 图”红色小三角并选择计数分析 > 每单位比率和计数分析 > 检验组间比率。
图 13.13 “每单位比率”和“检验组间比率”的结果
请注意,使用样本大小 101 来计算组 A 中原因的 DPU;但使用样本大小 145 来计算组 B 中原因的 DPU。
若有两个分组变量(比如,日期和工序),“每单位比率”将为每种原因列出每种日期和工序组合的 DPU 或比率。不过,“检验组间比率”仅检验组间的总差异。