“重复测量退化”平台的更多示例
使用“重复测量退化”平台拟合一组设备功率下降的加速重复测量退化模型。这些设备被分配到三种温度设置中的一种，以加速功率退化。您关注于估计在 80 摄氏度的正常工作温度下 15 年（约 130000 小时）后发生故障的设备比例。本例采用的模式仿照 Meeker et al.(2022, ch.21) 中的示例。
1. 选择帮助 > 样本数据文件夹，然后打开 Reliability/Device B.jmp。
2. 选择分析 > 可靠性和生存 > 重复测量退化。
3. 选择功率下降值并点击 Y，响应。
4. 选择小时数并点击时间。
5. 选择摄氏度数并点击 X。
温度设置是实验中的加速因子。
6. 选择设备并点击标签，系统 ID。
7. 在“失效下限定义”对应的输入字段中，输入 -0.5。
8. 在“使用条件”的输入字段中，输入 80。
正常工作温度为 80 摄氏度。
9. 点击确定。
10. 在“路径定义”面板中，选择第七个模型。
图 8.12 选定的“路径定义”模型
11. 将“摄氏”选作温度单位。
12. 点击确定。
13. 保留 195 作为参考温度，因为 195 是三个检验温度的中间温度。
14. 点击确定。
图中的曲线更新以便与选定模型匹配。
图 8.13 初始模型规格
图 8.14 初始模型图
15. 点击转至 Bayes 估计。
16. 点击拟合模型。
图 8.15 后验估计和诊断
“后验估计”报表显示 MCMC 过程的结果。使用该表右侧的按钮以查看数据表中的所有 MCMC 样本。“诊断”报表显示原始数据值以及拟合模型的曲线。
17. 在“失效分布”刻画器中，为“小时数”键入 130000。
图 8.16 寿命分布刻画器
“失效分布”刻画器显示：在 80 摄氏度的使用条件下，130000 小时的估计失效率约为 0.16，95% 可信区间为 0.004 至 0.732。