在“控制图生成器”中,您可以使用交互式工作区中的“新建 Y 图”选项或通过在特定控制图表启动窗口中指定多个过程,在同一窗口中创建多个控制图。在本例中,使用 IMR 控制图启动窗口,然后将控制限保存到新的数据表中。
1. 选择帮助 > 样本数据文件夹,然后打开 Semiconductor Capability.jmp。
2. 选择分析 > 质量和过程 > 控制图 > IMR 控制图。
3. 点击“过程”旁边的小三角以显示所有过程。
4. 选择前五个过程并点击 Y。
5. 点击确定。
若在报表窗口中滚动浏览,则全部五个选定过程都有单值和移动极差控制图。由于过程具有“规格限”列属性,因此每个过程还都有“过程能力分析”报表。
6. 点击“控制图生成器”红色小三角,然后选择保存限值 > 在高型新表中。
图 3.35 高型新表
控制限保存到新的数据表中,每个 Y 变量都有一行,每个统计量都有一列。