本例使用 Pareto 图比较两个不同过程的集成电路制作过程中失败的原因。要在同一个图上查看两个过程,需定义子类别。
1. 选择帮助 > 样本数据文件夹,然后打开 Quality Control/Failures.jmp。
2. 选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图。
3. 选择失败原因并点击 Y,原因。
4. 选择流程并点击子类别。
5. 选择计数并点击频数。
6. 点击确定。
图 15.16 带有子类别的 Pareto 图
每种过程和原因组合的失败次数显示在同一个 Pareto 图中。要更改子类别的直条样式,请点击“图”红色小三角并选择 Pareto > 子类别直条样式。