该帮助的版本不再更新，请参见https://www.jmp.com/support/help/zh-cn/15.2 获取最新的版本.


刻画器指南 • 模拟器 • 缺陷刻画器 • 缺陷率
上一个
 • 
下一个
缺陷率
模拟的总缺陷率的均值和标准差 (SD) 在每个缺陷特征图下方报告。该均值是缺陷刻画曲线通过对指定因子的分布求积分计算得出。由于估计中的数值误差，在每个因子下报告的总均值缺陷率可能稍有不同。
在“缺陷刻画器”中报告的缺陷率是对模拟的总缺陷率的估计值。在“预测刻画器”分级显示项内的缺陷表的“比率”列中也报告了该缺陷率。
注意：在您运行模拟并且一个或多个响应定义了规格限后，缺陷表将添加到“预测刻画器”分级显示项。
由于通过求积分和模拟来获取比率估计值的方式不同，所以这些估计值可能稍有不同。若这些估计值极为不同，则您可能需要考虑增加模拟试验次数。此外，检查因子尺度的范围是否足够大，以便积分很好地涵盖分布。
标准差可以测量缺陷率对因子的灵敏度。若因子刻画线很平坦或因子分布具有很小的方差，则标准差很小。标准差越大，该因子的变化对于缺陷率变异性的影响就越大。通过比较各个因子的标准差，您可以选择因子以便降低缺陷率。
当您更改因子分布设置时，均值和标准差值随之更新。通过此方法，您可以用一次改变一个因子的方式来探索如何降低缺陷。您可以点击并拖动因子分布上的一个控点，在拖动时查看均值和标准差的变化。但是，在您点击“重新运行”按钮以生成更新的模拟试验前，不会更新各个因子的变化。