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通过选择分析 > 筛选 > 过程历史分析器启动“过程历史分析器”平台。
图 22.3 “过程历史分析器”启动
样本数据表质量控制 > Lot Wafer History质量控制 > Lot Wafer Yield 提供关于如何在两个数据表中指定数据的示例。