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测量系统分析
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“测量系统分析”概述
“测量系统分析”平台中的 EMP(评估测量过程)方法主要基于 Donald J. Wheeler 所著
EMP III Using Imperfect Data
(
2006
) 一书中所述的方法。EMP 方法提供了易于解释的直观信息和结果,可帮助使测量系统发挥最大作用。
“量具 R&R”方法分析多少变异性来自操作员变异(再现性)和测量变异(重复性)。“量具 R&R”适用于许多交叉模型和嵌套模型的组合,不论模型是否平衡。详细信息,请参见
变异性量具图
。
在 6 Sigma DMAIC 方法中,MSA(测量系统分析)解决测量阶段问题,过程行为图(或控制图)解决控制阶段问题。MSA 帮助您预测将来结果并刻画其特征。您可以使用从 MSA 收集的信息帮助解释和配置过程行为图。
有关控制图的详细信息,请参见
第 25 页的
“控制图生成器”
。