本例使用 Failuressize.jmp 样本数据表,其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因,以及两个过程中出现每种类型缺陷的次数。在其他原因(氧化层缺陷、硅缺陷等)中,有一种原因标记为 size。将大小指定为原因代码,即可将行指定为大小行。
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点击确定。
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图 12.12 “Pareto 图”报表窗口
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图 12.13 “每单位比率”和“检验组间比率”的结果