本例使用 Failures.jmp 样本数据表,其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因,以及两个过程中出现每种类型缺陷的次数。为该示例指定的常数样本大小为 1000。
1.
选择帮助 > 样本数据库,然后打开 Quality Control/Failures.jmp
2.
选择分析 > 质量和过程 > Pareto 图
3.
选择失败原因并点击 Y,原因
4.
选择工序并点击 X,分组
5.
选择计数并点击频数
6.
选择每单位分析,然后选择常数
7.
样本大小中输入 1000
8.
点击确定
图 12.10 “Pareto 图”报表窗口
9.
从红色小三角菜单中选择计数分析 > 检验组间比率
图 12.11 “检验组间比率”的结果