本例使用 Failure.jmp 样本数据表，其中包含失败数据和一个频数列。表中列出集成电路制作过程中失败的原因，以及每种类型缺陷出现的次数。为该示例指定的阈值为 2。
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点击确定。
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图 12.8 阈值计数为 2 的 Pareto 图
图 12.8显示在指定计数 2 后标绘的图。计数为 2 或小于 2 的所有原因都合并为标签为“4 其他”的最后一个直条。
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图 12.9 原因分离后的 Pareto 图
