关于“量具 R&R 方法”

“量具 R&R”方法分析测量系统中的多少变异性来自操作员变异（再现性）和测量变异（重复性）。“量具 R&R”研究适用于许多交叉模型和嵌套模型的组合，不论模型是否平衡。

提示：或者，您可以使用 EMP 方法来评估测量系统。请参见测量系统分析。

在执行量具 R&R 研究前，从您的过程中所有不同大小的部件中随机抽取作为部件样本。随机选择几名操作员来测量每个部件几次。变异归因于以下来源：

• 过程变异，来自部件间。若测量值是可靠的，这是您要研究的最终变异。

• 执行多次测量固有的变异性，即重复性。在“量具 R&R”分析中的术语和求和定义 中，这称为组内变异。

• 由于不同操作员测量部件导致的变异性，即再现性。

“量具 R&R”分析便根据重复性和再现性报告变异。

Shewhart 控制图可标识随时间失控的过程。变异性图还可以帮助标识在均值或方差中存在系统差异的操作员、仪器或部件来源。

需要更多信息？有问题？从 JMP 用户社区得到解答 (community.jmp.com).